Desarrollo y construcción de microscopio metrológico de campo cercano, con integración de técnicas interferométricas de alta resolución basadas en fuentes láser estabilizadas trazadas al patrón nacional de longitud. Trazabilidad directa a la unidad SI de longitud, el metro, de patrones y muestras empleados en el campo de las nanotecnologías, susceptibles de utilización posterior para la calibración y ajuste de instrumentación de medida.