El investigador del NIST Nikolai Klimov presenta en el CEM los avances del Standard Photonic Thermometer (SPoT), una tecnología fotónica que aspira a llevar la termometría de alta exactitud más allá de los límites de los termómetros patrón de resistencia de platino.
La visita se enmarca en las actividades que tendrán lugar tras la reunión de la CPEM y ofrecerá a la comunidad metrológica la oportunidad de conocer de primera mano una de las líneas de investigación más innovadoras en el campo de la termometría.
El Centro Español de Metrología (CEM) acogerá el próximo 14 de septiembre, a las 10:30 horas, la visita del Dr. Nikolai Klimov, investigador del National Institute of Standards and Technology (NIST) y una de las figuras de referencia internacional en el ámbito de la fotónica aplicada a la metrología.
La visita se enmarca en las actividades que tendrán lugar tras la reunión de la CPEM y ofrecerá a la comunidad metrológica la oportunidad de conocer de primera mano una de las líneas de investigación más innovadoras en el campo de la termometría.
Durante su estancia en el CEM, el Dr. Klimov impartirá el seminario:
“SPoT Thermometry: Deployable Photonic Accuracy Beyond SPRT Limits | Termometría fotónica patrón: precisión fotónica más allá de los límites del SPRT”
La presentación estará dedicada a los avances desarrollados por el NIST en el Standard Photonic Thermometer (SPoT), una nueva aproximación a la termometría de alta exactitud que busca superar algunas de las limitaciones asociadas al termómetro patrón de resistencia de platino (SPRT).
El SPoT se basa en la combinación de tecnologías de nanofabricación, fotónica y metrología de frecuencias ópticas, abriendo nuevas posibilidades para el desarrollo de termómetros de elevada precisión.
más compactos y potencialmente desplegables fuera de los entornos tradicionales de los laboratorios nacionales de metrología.
La propuesta del NIST representa, por tanto, un interesante ejemplo de cómo la convergencia entre nanotecnología, fotónica y metrología cuántica puede contribuir a transformar las tecnologías empleadas para realizar y diseminar las unidades de medida.
Aunque el contenido del seminario presenta un especial interés para los profesionales e investigadores de las áreas de Temperatura y Electricidad, el carácter transversal de las tecnologías abordadas y sus posibles aplicaciones hacen que esta actividad resulte de interés para cualquier persona vinculada a la investigación, innovación y desarrollo metrológico.
La visita constituye además una oportunidad para acercar al CEM algunas de las líneas de investigación que están marcando la evolución de la metrología de alta exactitud y para favorecer el intercambio de conocimiento y experiencias entre investigadores y especialistas de distintos ámbitos.
Seminario en formato híbrido.
El seminario tendrá lugar el 14 de septiembre a las 10:30 horas, en el Aula 1 del CEM, y se podrá seguir también en formato online a través de Microsoft Teams.
Lugar: Aula 1, Centro Español de Metrología
Fecha: 14 de septiembre de 2026
Hora: 10:30 h
Modalidad: Presencial y online
Meeting ID: 367 987 079 861 462
Passcode: jL9A78rT
El investigador del NIST Nikolai Klimov examina un chip fotónico integrado en su laboratorio. Su trabajo en nanofotónica aplicada a la termometría está impulsando el desarrollo del Standard Photonic Thermometer (SPoT), una nueva generación de sensores de temperatura de alta exactitud. Fuente: M. King/NIST
Termómetros fotónicos desarrollados en el NIST. Los dispositivos integran el sensor fotónico y las conexiones de fibra óptica en un formato compacto, una de las características que puede favorecer el despliegue de esta tecnología fuera de los laboratorios especializados. Fuente: NIST