Representantes del National Institute of Metrology of China (NIM) encabezados por su director general Dr. Li Wentao han realizado el 27 de mayo de 2026 una visita institucional al Centro Español de Metrología (CEM) en una jornada marcada por el fortalecimiento de la cooperación internacional en el ámbito científico y tecnológico. La delegación china fue recibida por la dirección del organismo español, donde se desarrolló un recorrido técnico por algunos laboratorios y áreas de investigación.
La metrología cuántica ocupó un lugar destacado en las conversaciones mantenidas durante la jornada. Ambas delegaciones debatieron sobre el desarrollo de patrones basados en tecnologías cuánticas y sobre el impacto que estas innovaciones tendrán en la próxima generación de sistemas de medición de alta exactitud. También se abordaron temas relacionados con la metrología química y el medioambiente.
Uno de los momentos más destacados de la jornada fue la firma por parte de Wentao Li, Director General del NIM, y Dolores del Campo, Directora del CEM, de un Memorandum of Understanding (MOU) entre el NIM y el CEM. Este acuerdo establece un marco de cooperación destinado a promover la colaboración científica y técnica y el intercambio de experiencias. La rúbrica del documento simboliza además el compromiso de ambas entidades con el desarrollo de patrones internacionales cada vez más precisos y armonizados.
Los responsables del CEM subrayaron la importancia de estrechar vínculos con instituciones de referencia mundial como el NIM, considerado uno de los organismos más influyentes en el ámbito metrológico asiático. Por su parte, la delegación china destacó el elevado nivel tecnológico de las instalaciones del CEM y el prestigio científico alcanzado por el centro en los últimos años. Los asistentes coincidieron en señalar que la cooperación internacional resulta esencial para garantizar la fiabilidad de las mediciones en un contexto económico y científico cada vez más globalizado.
