Servicios en el Área de Longitud

Laboratorio Servicio Campo U(k = 2)
Primario de Longitud Calibración de láseres estabilizados de He-Ne: determinación de la longitud de onda en el vacío (frecuencia) 633 nm / 473 THz 0,04 fm / 24 kHz
Calibración de otros láseres estabilizados: determinación de longitud de onda en el vacío (frecuencia) 633 nm 6,2 E-10
Calibración de sistemas interferométricos para medida de distancias: determinación del error en el desplazamiento indicado L 25 m Q[0,01; 0,12L/m] µm
Calibración de sistemas interferométricos láser: error en la compensación de la longitud de onda (índice de refracción del aire, n) para T: (18 a 22) ºC 7 E-8 n
para P: (900 ± 100) hPa
para Hr: (50 ± 5) %
Metrología Dimensional Calibración de bloques patrón longitudinales por interferometría: determinación de la longitud central a partir de 2 adherencias (0,5 a 100) mm Q[17; 0,3L/mm] nm
Calibración de bloques patrón longitudinales por interferometría: determinación de la longitud central a partir de 1 adherencia (0,5 a 100) mm Q[33; 0,4L/mm] nm
Calibración de bloques patrón de gran longitud, por comparación interferométrica: determinación de la longitud central (125 a 1200) mm Q[70; 0,4L/mm] nm
Calibración de columnas de bloques patrón escalonados: determinación de la distancia entre caras L (5 a 1200) mm Q[90; 0,45L/mm] nm
Calibración de patrones a trazos: determinación de la distancia entre trazos L (0,01 a 100) mm Q[70; 0,4L/mm] nm
Calibración de patrones a trazos (precisión media): determinación de la distancia entre trazos L (0,01 a 100) mm 0,2 µm
Calibración de medidas de longitud (flexómetros, cintas métricas de acero, etc.): determinación de la distancia entre trazos L (1 a 100) m Q[40; 4L/m] µm
Calibración de unidades de traslación mediante interferometría láser 200 mm 0,2 µm
Calibración de patrones y retículos bidimensionales 200 mm 0,2 µm
Calibración de patrones de diámetro exterior 2 a 100 mm 0,3 µm
Calibración de patrones de diámetro interior 3 a 100 mm 0,3 µm
Calibración de esferas: determinación del diámetro exterior 10 a 50 mm 0,5 µm
Mediciones Angulares Calibración de polígonos ópticos: determinación de ángulos entre caras 5º a 90º 0,25” a 0,15"
Calibración de autocolimadores: determinación del error del ángulo indicado --- 0,3 "
Calibración de bloques angulares: determinación del ángulo entre caras (1 a 45) (º, ‘ y “) 0,3 "
Calibración de escuadras ópticas (pentaprismas) (90 ± 1)º 0,3 "
Calibración de ópticas angulares de sistemas interferométricos láser: determinación de la distancia entre vértices de los retrorreflectores (obtención del factor de corrección de la óptica) ± 15º 2∙10-5
Calibración de ópticas angulares de sistemas interferométricos láser: determinación de las desviaciones a los valores nominales ± 15º 0,15 "
Control de Formas Calibración de diámetros exteriores e interiores: determinación del defecto de redondez R 100 µm Q[40; 40R/µm] nm
Calibración de patrones de redondez (Hemisferios): determinación del defecto de redondez R 5 µm Q[30; 40R/µm] nm
Calibración de patrones de redondez (Hemisferios): determinación del defecto de redondez mediante la técnica multistep de separación de errores 1 µm 6 nm
Calibración de patrones de amplificación (flick standards): determinación del defecto de redondez R (0,01 a 100) µm Q[30; 40R/µm] nm
Calibración de patrones cilíndricos: Determinación del defecto de rectitud S (0,01 a 5) µm Q[0,030; 0,040S/µm; 0,002H/µm] µm
Calibración de cilindros de perpendicularidad de hasta 500 mm de altura: determinación del defecto de perpendicularidad 5 µm/m 0,5 µm/m
Calibración de patrones de planitud: determinación del defecto de planitud P-V 1 µm 20 nm
Calidad Superficial Calibración de patrones de amplificación (ranura/escalón): determinación de la profundidad/altura H por microscopía interferencial 5 nm a 2 µm Q[1,5; 6H/µm] nm
Calibración de patrones de amplificación (ranura/escalón): determinación de la profundidad/altura H por contacto con palpador (0,01 a 15) µm Q[2; 20H/µm] nm
Calibración de patrones de rugosidad (ISO 5436-1 tipo D): determinación del parámetro Ra (0,01 a 15) µm Q[9; 30Ra/µm] nm
Calibración de patrones de rugosidad (ISO 5436-1 tipo D): determinación del parámetro Rz (0,01 a 15) µm Q[14; 40Rz/µm] nm
Instrumentos Topográficos Calibración de miras para nivelación: determinación de la distancia entre trazos L (1 a 3) m Q[5; 0,3L/m] µm
Calibración de niveles topográficos --- 3”
Calibración de teodolitos: determinación del error de ángulo indicado 400 gon 0,3 mgon = 1”
Calibración de colimadores --- 0,6 mgon = 2”
Calibración de distanciómetros electrónicos de uso topográfico: determinación del error de distancia indicada 25 m Q[0,1; 0,01L/m] mm
Calibración de distanciómetros láser “de bolsillo”: determinación del error de distancia indicada 50 m 1 mm
Calibración de líneas base (distancias patrón) 50 m 0,5 mm

 

(*) Q[a, b] representa la suma cuadrática de los términos entre paréntesis; es decir, Q[a, b] = [a2 + b2]1/2

Última modificación
09/03/2021