Sintetizador óptico de frecuencias MenloSystems FC1500-250 compuesto por láser de pulsos de femtosegundos, amplificador EDFA e interferómetro no lineal generador de segundo armónico, ligado a patrón atómico de Cs (nueva realización práctica del metro) (10-14).

Láseres estabilizados de He-Ne mediante absorción saturada sobre 127I2 (CEM1, CEM2 y CEM3) (realización práctica del metro, 633 nm) (10-11).

Sistemas modulares de batido de frecuencias para la determinación de frecuencia (longitud de onda en vacío) y estabilidad de láseres emitiendo en el rango visible e infrarrojo cercano.

Láseres estabilizados TESA-RSD de He-Ne (633 nm y 543 nm) (10-9).

Interferómetro NPL-TESA para calibración absoluta de bloques patrón longitudinales (10-9).

Comparador Interferométrico CEM-TEK 1200 para calibración de patrones materializados de longitud hasta 1200 mm (bloques patrón, columnas de bloques, barras de extremos y patrones a trazos) (10-8).

Sistemas interferométricos láser para medición de magnitudes lineales y angulares (10-7).

Sistema compacto de alta resolución, con cancelación de no linealidades en señales de interferencia generadas por láseres heterodinos, para la calibración de actuadores piezoeléctricos (10-9).

Banco de 25 m de capacidad, dotado de sistema interferométrico láser de medida (calibración de sistemas interferométricos, medidas materializadas, distanciómetros, miras,…) (10-6)

Máquina de medición de una coordenada horizontal Labmaster, carente de error de Abbe, con interferómetro láser (10-8).

Máquina de visión y contacto mecánico, de alta exactitud (Mitutoyo ULTRA QV-350), con amplificación entre 32X y 2000X (10-7).

Sistema automatizado para calibración por láser de patrones a trazos y retículas en dos dimensiones, con campo de medida de (100 x 100) mm (10-7) 

Máquina de medición por coordenadas (retrofit TRIMEK sobre ZEISS UMM 500) con campo de medida de (500 x 200 x 300) mm (10-6).

Mesa giratoria angular absoluta CEM-TEK basada en patrón a trazos interno codificado, de lectura óptica (0,1”) (patrón nacional de ángulo plano).

Goniómetro automático ZG Optique GA-IL basado en ring-láser, para calibración de patrones angulares (0,2”).

Autocolimadores fotoeléctricos de doble eje y alta resolución (Elcomat HR y Taylor Hobson) (0,2”).

Interferómetros tipo Fizeau (Wyko RTI 6100 y Wyko 6000PC), para determinación óptica de defectos de planitud (10-9).

Máquina medidora de defectos de forma Mitutoyo RA-H5100CNC, con técnica de separación de errores (10-9).

Microscopio interferométrico Wyko NT9800 para calibración de patrones de amplificación (10-9).

Microscopio Holográfico Digital DHM-1003 R, con doble longitud de onda (10-9).

Microscopio de fuerza atómica SIS (10-9).

Microscopio metrológico de campo cercano (MSPM), para calibración de patrones utilizados en nanotecnología, con campo de medida de (25 x 25 x 5) mm (10-9).

Calibrador de patrones de amplificación, mediante contacto con palpador (KLA Tencor P6) (10-9)

Rugosímetro con palpador de contacto (Mahr S8P) (10-7)

Láser tracker LEICA AT-901B (10-7)

Teodolitos, Estaciones totales, Niveles ópticos, Colimadores patrón, Distanciómetros, …